Thick 8000 電鍍層厚度測(ce)試儀(yi)

產品介紹(shao)

    Thick 8000 電(dian)鍍(du)層(ceng)厚度(du)(du)測(ce)試儀是(shi)專(zhuan)門(men)針對鍍(du)層(ceng)厚度(du)(du)測(ce)量而精(jing)心設計(ji)的(de)一款新(xin)型儀器。主要(yao)應用于：金屬(shu)鍍(du)層(ceng)的(de)厚度(du)(du)測(ce)量、電(dian)鍍(du)液和鍍(du)層(ceng)含量的(de)測(ce)定；黃金、鉑、銀(yin)等貴金屬(shu)和各種(zhong)首(shou)飾的(de)含量檢測(ce)。

性(xing)能(neng)優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
先進的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：zui多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，zui薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用先進的微孔準直技術，zui小孔徑達0.1mm，zui小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃

測試實例(li)

在保證計數率的情況下能有效分(fen)辨相近元(yuan)素，大大提高測試穩定性、降低檢(jian)測限。

Thick 8000檢測譜圖

某國外儀(yi)器檢測譜圖

11次(ci)測(ce)量結果（Au-Cu)的穩(wen)定(ding)性(xing)數據對比(bi)如下(xia)：

Thick800A

1、儀器(qi)概(gai)述

    鍍(du)層膜厚(hou)是電(dian)鍍(du)產(chan)品的(de)重要技術指標，關系(xi)到(dao)產(chan)品的(de)質量以及(ji)生產(chan)成本。 Thick800A鍍(du)層測厚(hou)儀是天瑞集(ji)多年的(de)經驗，專門研發用于鍍(du)層行(xing)業的(de)一款膜厚(hou)測試(shi)儀器，配備移動(dong)平(ping)臺，可全自動(dong)軟件操作，并(bing)進行(xing)多點(dian)測試(shi)，檢測結(jie)果更加(jia)精準(zhun)。

2、性能優勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
zui小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

3、技術(shu)指(zhi)標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層
一次可同時分析多達五層鍍層
zui薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg

4、測(ce)試(shi)實例(li)

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行精確定位測試，其測試位置如圖。

銅(tong)鍍鎳件X射線熒光測試(shi)譜圖

銅鍍鎳件測試值

結論

實驗(yan)表明，使(shi)用(yong)Thick800A 儀器對(dui)鍍件(jian)膜厚測(ce)試，結果準確度(du)高，速(su)度(du)快（幾(ji)十秒），其測(ce)試效果*可(ke)以和顯(xian)微鏡測(ce)試法(fa)媲美。

Think600

1、儀器概述

    Think600鍍(du)層測厚儀使(shi)用(yong)高效而實用(yong)的正比計(ji)(ji)數盒和(he)電制冷探測器，以實在(zai)的價(jia)格(ge)定位滿足鍍(du)層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設(she)計(ji)(ji)，使(shi)儀器操作(zuo)更人性化、更方便。

2、性能優勢

長效穩定X銅光管
半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷
采用天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE）
內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器，數據處理快速準確
手動開關樣品腔，操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結構、外型高貴時尚
Fp軟件，無標準樣品時亦可測量

3、技術指標

分析范圍： Ti-U，可分析zui高3層15個元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
分析精度：多次測量穩定性可達1%.
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）
探測器分辨率：（160±5）eV
光管高壓：5-50kV
管流：50μA-1000μA
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：30%-70%
準直器：配置不同直徑準直孔，zui小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610（L）x 355（W）x 380（H）mm
儀器重量：30kg

EDX600

1、儀器概(gai)述

    EDX600是集天瑞儀器多年貴金屬檢測技術和經驗，以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。
    EDX600貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。

2、性能優勢

專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序

3、技術(shu)指標(biao)

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達：1ppm
分析含量一般為：1ppm到99.9%
多次測量重復性可達：0.1%
長期工作穩定性為：0.1%
外觀尺寸：430×380×355mm
樣品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg

4、標準配置(zhi)

單樣品腔。
正比計數盒探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
X光管

廠家介紹

天(tian)瑞(rui)儀(yi)器(qi)是生產的廠家，分析儀(yi)器(qi)上市(shi)企業(ye)，以(yi)上三款(kuan)儀(yi)器(qi)是專門(men)針對鍍層測厚(hou)行業(ye)開(kai)發的儀(yi)器(qi)，根(gen)據(ju)不同(tong)客戶的測試需求使用不同(tong)的型(xing)號，做到(dao)更專業(ye)化，智能化。