【X射線鍍層測厚儀生產廠家】產品介紹

    Thick 8000 X射線鍍(du)層測(ce)厚儀是(shi)專門針對鍍(du)層厚度測(ce)量而(er)精心設(she)計(ji)的(de)一款新型(xing)儀器(qi)。主要應用于：金(jin)屬鍍(du)層的(de)厚度測(ce)量、電鍍(du)液和鍍(du)層含量的(de)測(ce)定；黃金(jin)、鉑、銀等貴金(jin)屬和各種首飾的(de)含量檢測(ce)。

天瑞儀器是大X射線鍍層測厚儀生產廠家，分析儀器上市企業。

【廠家】性能優勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
先進的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

【廠家】技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：zui多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，zui薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用先進的微孔準直技術，zui小孔徑達0.1mm，zui小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃

【廠家】測試實例

在保證(zheng)計(ji)數率的情況下能有效(xiao)分辨相(xiang)近元素，大大提高測(ce)試穩定(ding)性、降(jiang)低檢測(ce)限。

Thick 8000檢測譜圖

某(mou)國外儀器檢測譜圖

11次(ci)測量(liang)結果（Au-Cu)的穩定性(xing)數據(ju)對比(bi)如(ru)下：