EDX3600K型x射線(xian)熒光礦石分析儀(yi)

產(chan)品介紹

x射(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)(guang)礦石分(fen)析(xi)儀(yi)屬于(yu)先進的(de)分(fen)析(xi)檢(jian)測(ce)儀(yi)器(qi)，隨著半導體微電(dian)子技術(shu)(shu)和計算機技術(shu)(shu)的(de)飛速發展(zhan)，傳統的(de)光(guang)(guang)(guang)學、熱學、電(dian)化(hua)學、色譜(pu)、波譜(pu)類分(fen)析(xi)技術(shu)(shu)都已從(cong)經典(dian)的(de)化(hua)學精密(mi)機械(xie)電(dian)子學結(jie)構(gou)、實驗室內人工操作(zuo)應用(yong)模式(shi)，轉化(hua)成(cheng)(cheng)光(guang)(guang)(guang)、機、電(dian)、算（計算機）一體化(hua)、自(zi)動化(hua)的(de)結(jie)構(gou)，并(bing)向(xiang)智能(neng)化(hua)、小型化(hua)、在(zai)線(xian)(xian)式(shi)及儀(yi)器(qi)聯用(yong)方向(xiang)發展(zhan)。天瑞公司在(zai)以已掌(zhang)握的(de)成(cheng)(cheng)熟的(de)臺式(shi)X射(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)(guang)分(fen)析(xi)儀(yi)技術(shu)(shu)為基(ji)礎，結(jie)合(he)國外(wai)相關新(xin)的(de)技術(shu)(shu)發展(zhan)成(cheng)(cheng)果(guo)，研(yan)制(zhi)出具有自(zi)主知(zhi)識產權的(de)EDX 3600K型x射(she)線(xian)(xian)熒光(guang)(guang)(guang)礦石分(fen)析(xi)儀(yi)，可以測(ce)試燒結(jie)礦、球團礦、爐渣、轉爐渣、鎳鐵、鐵精粉等。

技術參(can)數

型(xing)號：EDX3600K

X射線源：50KV、1mA

樣品(pin)腔體積：Φ40.5mm×39.5mm

分析方(fang)(fang)法(fa)：能量(liang)色(se)散(san)X熒光(guang)分析方(fang)(fang)法(fa)

測量(liang)元(yuan)素范圍：原(yuan)子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元(yuan)素均(jun)可測量(liang)

檢測元(yuan)(yuan)素：同時分(fen)析元(yuan)(yuan)素達三十多(duo)種，可(ke)根據客戶需要增(zeng)加元(yuan)(yuan)素

含(han)量范圍：ppm～99.99%

檢測時間：10秒以上(shang)

檢測對象(xiang)：標準粉未壓片(pian)及可以(yi)放入(ru)標準樣品(pin)杯的固體、液體及粉末

探測(ce)器及分(fen)辨率(lv)：超(chao)大超(chao)薄的SDD探測(ce)器，分(fen)辨率(lv) 為(wei)144±5eV,可選配極速探測(ce)器至125eV

激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶(hu)需(xu)求可供選擇(ze)

攝像頭(tou)：高清攝像頭(tou)

測井環境：超真空系統(tong)，10秒可抽(chou)到(dao)10Pa以(yi)下(xia)，大氣、氦(hai)氣均可以(yi)

準(zhun)直(zhi)器和濾光片：四組準(zhun)直(zhi)器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自(zi)動切(qie)換

自(zi)旋(xuan)裝(zhuang)置：可調速的自(zi)旋(xuan)裝(zhuang)置

檢(jian)出限：對樣品中(zhong)的大多數元素來說，檢(jian)出限達5～500ppm

真空系(xi)(xi)統：超真空系(xi)(xi)統，10秒可(ke)到10Pa

數據傳輸：數字多(duo)道技術(shu)，快速分析(xi)，高計(ji)數率(lv)

測試臺(tai)：360°電動(dong)旋轉式(shi)

保護系(xi)統：樣品腔為電動控制，上蓋(gai)打開(kai)時(shi)測試已完成(cheng)

樣(yang)品(pin)(pin)放置：*的(de)樣(yang)品(pin)(pin)杯設計(ji)，自帶壓環，可防止(zhi)樣(yang)品(pin)(pin)晃動(dong)

數(shu)(shu)字(zi)多道(dao)技(ji)術：計(ji)數(shu)(shu)率>50kcps，有效計(ji)數(shu)(shu)率高至500kcps

外形尺(chi)寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

操(cao)作環境(jing)濕(shi)度：≤90%

操作環境(jing)溫度：15℃～30℃

應用(yong)領域

專(zhuan)為粉(fen)未冶(ye)(ye)煉(lian)行(xing)業研發的一(yi)款設備，主要應用(yong)在水泥(ni)冶(ye)(ye)煉(lian)、鋼(gang)鐵冶(ye)(ye)煉(lian)、礦(kuang)冶(ye)(ye)煉(lian)(銅礦(kuang)、鉛礦(kuang)等)、鋁冶(ye)(ye)煉(lian)、玻(bo)璃制造、耐(nai)火材料分(fen)析、各種粉(fen)未冶(ye)(ye)金分(fen)析行(xing)業、石油勘探錄井分(fen)析領域。

同時在(zai)地質、礦(kuang)(kuang)樣、冶金(jin)、稀土(tu)材(cai)料、環境監測、有色金(jin)屬(shu)、食品(pin)、農業等科研院所、大專院校和工礦(kuang)(kuang)企業中也(ye)得到廣(guang)泛應用。

性能優勢(shi)

1.超低能量分(fen)辨率，輕元(yuan)素檢測效果更佳

使用(yong)大面(mian)積鈹窗(chuang)電致冷(leng)SDD探測器(qi)，探測器(qi)分辨率達(da)到139eV，各項指標(biao)(biao)優于國家標(biao)(biao)準。SDD探測器(qi)具有良好(hao)的能量線(xian)

性、良好(hao)的(de)(de)能量(liang)分辨(bian)率，及良好(hao)的(de)(de)能譜特性，較高的(de)(de)峰背比(bi)；對Si、S、AI等輕(qing)元素的(de)(de)測試具(ju)有良好(hao)的(de)(de)分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低

①專業化(hua)的樣(yang)品(pin)腔(qiang)設計(ji)，帶可(ke)調速的自(zi)旋樣(yang)品(pin)腔(qiang)，能有效的測定輕元(yuan)素(su)和減少樣(yang)品(pin)均一性(xing)的影響，提(ti)高樣(yang)品(pin)的測試精度。

②采用超小(xiao)超真空的樣品腔設(she)計，保證測試(shi)時達(da)到10Pa以下，使設(she)備的測試(shi)范圍可從F元(yuan)素起(qi)測試(shi)，大大地提高測試(shi)范圍、輕元(yuan)素檢出限和精(jing)度。

3. 分析(xi)速度更快，從第1秒即可(ke)得到定性定量結(jie)果

采用自主研發的(de)數(shu)(shu)字多道技術，其線(xian)性計數(shu)(shu)率可達100kcps，可以(yi)更加快速的(de)分析，從第1秒就(jiu)可以(yi)得出定性定量結果，

設計成高(gao)計數(shu)率，大大提高(gao)了設備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作

專業(ye)軟(ruan)(ruan)件，先進(jin)的(de)FP法和EC法等多種方法嵌入(ru)的(de)人性化(hua)的(de)應用軟(ruan)(ruan)件，具有(you)高靈敏度、測試(shi)時間短(duan)、一鍵智能化(hua)操(cao)(cao)作(zuo)，使(shi)操(cao)(cao)作(zuo)簡易，對(dui)操(cao)(cao)作(zuo)人員限制小(xiao)的(de)特點。

5. 強(qiang)大的自動化(hua)功能

①自動(dong)化程度(du)高，具有自動(dong)開(kai)蓋(gai)、自動(dong)切換準直器(qi)與濾光片等(deng)功(gong)能(neng)。

②采(cai)(cai)用(yong)(yong)自動穩譜裝置，保證了儀器工作的(de)(de)*性(xing)：利用(yong)(yong)解譜技術使譜峰分解，采(cai)(cai)用(yong)(yong)多參數(shu)的(de)(de)線性(xing)回歸方(fang)法(fa)，使元素間的(de)(de)吸收、排(pai)斥效應得到明顯的(de)(de)降低。

6. 強度校正法

具有多種測試模(mo)式設置(zhi)和無限數目模(mo)式的自由添(tian)加，內置(zhi)強度校(xiao)正(zheng)方法，可校(xiao)正(zheng)幾何狀態(tai)不(bu)同(tong)和結構密度不(bu)均勻的樣品造成的偏(pian)差。

7. 完善的光路系統

自主(zhu)研發的(de)光(guang)(guang)路(lu)系統，光(guang)(guang)程更短，光(guang)(guang)路(lu)損失更少，激發效果更佳。

8. 三(san)重(zhong)安全防護功能

三重(zhong)安(an)全防護功能，自動感(gan)應(ying)，沒有樣品時儀器(qi)不工作(zuo)，無射線泄(xie)漏；加(jia)厚防護測(ce)試壁；配送測(ce)試防護安(an)全罩。

9. 安(an)全警示系統

警告指示系統，通(tong)電時綠色(se)指示燈亮，測試時黃色(se)輻(fu)射指示燈閃爍，防止誤操作(zuo)。

儀器(qi)配置

鈹窗電制冷SDD探測器

自(zi)旋式樣品腔

高效超(chao)薄窗X光(guang)管(guan)

信(xin)噪比增強(qiang)器(qi)SNE

超(chao)近光路(lu)增強系統

可(ke)自動開啟(qi)的測試蓋

自動切換型準直器和(he)濾光片

真(zhen)空腔體

自(zi)動穩譜(pu)裝置

90mm×70mm的(de)液(ye)晶(jing)屏

先進的數字多道技術

多變量非線性回歸程序

相互(hu)獨立的基體效(xiao)應校正模型

軟件優勢

采用公司(si)新的(de)能(neng)譜EDXRF軟件，先進(jin)的(de)FP法和EC法等多種(zhong)方法嵌(qian)入的(de)人性(xing)化的(de)應(ying)用軟件，具有高(gao)靈(ling)敏度(du)、測試時間短、一鍵智能(neng)化操(cao)(cao)作，操(cao)(cao)作簡(jian)易，對操(cao)(cao)作人員(yuan)限制小的(de)特點。

具(ju)有多種(zhong)測試模式設(she)置(zhi)和無限(xian)數(shu)目模式自由添加，內(nei)置(zhi)強度(du)校(xiao)正方法，可(ke)校(xiao)正幾何(he)狀態不同和結構密度(du)不均勻的(de)樣(yang)品造成(cheng)的(de)偏差。

全(quan)新的軟(ruan)件界面和(he)內核，采用FP和(he)EC軟(ruan)件組合的方(fang)法，應用面更加廣泛(fan)。

EDX 3600K型x射線熒光礦石(shi)分析(xi)儀的(de)亮點在于(yu)它(ta)大鈹窗超薄口的(de)高分辨SDD探測器和自旋(xuan)式的(de)樣品腔，產品通(tong)過了(le)江蘇省(sheng)計量科(ke)學研究(jiu)院(yuan)的(de)檢測，并通(tong)過中國儀器儀表學會(hui)分析(xi)儀器分會(hui)組織的(de)科(ke)技成果鑒(jian)定，技術達到較高水(shui)平。