產品介紹(shao)

X熒光光譜(pu)(pu)儀屬(shu)于先進(jin)的(de)(de)(de)金屬(shu)元素分(fen)析檢測儀器(qi)，隨著半導體(ti)微電子技術(shu)和計(ji)算(suan)機(ji)(ji)技術(shu)的(de)(de)(de)飛速(su)發(fa)展，傳統的(de)(de)(de)光學(xue)(xue)、熱學(xue)(xue)、電化(hua)(hua)學(xue)(xue)、色譜(pu)(pu)、波譜(pu)(pu)類分(fen)析技術(shu)都已(yi)從經典的(de)(de)(de)化(hua)(hua)學(xue)(xue)精密機(ji)(ji)械電子學(xue)(xue)結構、實(shi)驗室內人工操作應(ying)用模式，轉化(hua)(hua)成光、機(ji)(ji)、電、算(suan)（計(ji)算(suan)機(ji)(ji)）一體(ti)化(hua)(hua)、自動化(hua)(hua)的(de)(de)(de)結構，并向(xiang)智能化(hua)(hua)、小型化(hua)(hua)、在線式及(ji)儀器(qi)聯用方(fang)向(xiang)發(fa)展。天瑞公司(si)在以已(yi)掌(zhang)握的(de)(de)(de)成熟(shu)的(de)(de)(de)臺式X熒光(guang)光(guang)譜儀(金屬元素分析(xi)檢測(ce)儀)技(ji)術(shu)為(wei)基礎，結(jie)合國(guo)外相關(guan)新的(de)技(ji)術(shu)發展成果，研制出具有自主知(zhi)識(shi)產(chan)權的(de)EDX 3600K型X射(she)線熒光(guang)光(guang)譜分(fen)析儀。

EDX 3600K XRF光譜儀的亮點在于它大鈹窗(chuang)超薄口的高分(fen)辨(bian)SDD探(tan)測(ce)器和(he)自旋式的(de)樣品腔，產(chan)品通過(guo)了江蘇省計(ji)量科學研(yan)究(jiu)院的(de)檢測(ce)，并通過(guo)中國儀(yi)器儀(yi)表學會分析儀(yi)器分會組織的(de)科技(ji)成(cheng)果鑒定，技(ji)術達到國際較高水平。

性能優勢

1.超(chao)低能量(liang)分辨(bian)率，輕元素檢測效果更(geng)佳

使用大面積(ji)鈹窗電(dian)致冷SDD探測器(qi)，探測器(qi)分(fen)辨(bian)率達到139eV，各(ge)項指標(biao)優于國家標(biao)準(zhun)。SDD探測器具有良好的能(neng)量線

性、良(liang)好(hao)的(de)能(neng)量分辨率，及良(liang)好(hao)的(de)能(neng)譜(pu)特性，較高的(de)峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測(ce)試具(ju)有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出(chu)限更低

①專業化的(de)樣品(pin)(pin)腔設計，帶可調速的(de)自旋樣品(pin)(pin)腔，能有效的(de)測(ce)定輕(qing)元素和減(jian)少樣品(pin)(pin)均一(yi)性(xing)的(de)影(ying)響(xiang)，提高(gao)樣品(pin)(pin)的(de)測(ce)試精度。

②采(cai)用超小超真空(kong)的樣品腔設(she)計，保證測試(shi)時達(da)到10Pa以下，使(shi)設備的測(ce)試范圍可從(cong)F元素(su)起測試，大大地(di)提高測試范圍(wei)、輕元素(su)檢出(chu)限和精度。

3. 分析(xi)速度更(geng)快，從第1秒即可得到(dao)定(ding)性定(ding)量結(jie)果

采用自主研發(fa)的數(shu)字多道技(ji)術(shu)，其線性計數(shu)率可達100kcps，可以更加快速(su)的分(fen)析，從(cong)第(di)1秒就可以得出定性定量結(jie)果(guo)，

設(she)計成高計數率，大(da)大(da)提高了設(she)備的穩定性。

4. 一(yi)鍵(jian)式(shi)智(zhi)能化(hua)操作

專業(ye)軟件，先進的FP法(fa)和(he)EC法(fa)等多種方(fang)法(fa)嵌入(ru)的人性化(hua)的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化(hua)操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)，使(shi)操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)簡易，對操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)人員限制小(xiao)的特點。

5. 強大(da)的自動化(hua)功能

①自動化程度(du)高，具(ju)有(you)自動開蓋(gai)、自動切換準直器與濾光片(pian)等功能(neng)。

②采(cai)用(yong)自動(dong)穩譜(pu)裝置，保證了儀器工作的*性：利(li)用(yong)解(jie)譜(pu)技術使(shi)譜(pu)峰分(fen)解(jie)，采(cai)用(yong)多參(can)數的線性回歸方法(fa)，使(shi)元素(su)間的吸收、排(pai)斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法

具有多種(zhong)測試模式設置和(he)無限數目模式的自由添加(jia)，內置強度校正(zheng)方(fang)法，可校正(zheng)幾何狀態不同和(he)結構密度不均勻(yun)的樣品(pin)造成的偏(pian)差(cha)。

7. 完善的光路系統

自主研發的光路系統，光程更短，光路損(sun)失更少，激發效果(guo)更佳。

8. 三(san)重安全防(fang)護(hu)功能(neng)

三重安(an)全(quan)防護功能，自(zi)動感應，沒(mei)有樣品時儀器不工作，無射線泄(xie)漏；加厚防護測試(shi)壁(bi)；配送測試(shi)防護安(an)全(quan)罩。

9. 安全(quan)警示(shi)系統

警告(gao)指示系(xi)統(tong)，通電時(shi)綠色指示燈亮，測試(shi)時(shi)黃(huang)色輻射指示燈閃爍(shuo)，防止(zhi)誤(wu)操作。

儀器配(pei)置

鈹窗電制冷SDD探測器(qi)

自旋式樣品(pin)腔

高(gao)效超薄窗X光管

信噪比增強(qiang)器SNE

超近光路(lu)增強系統

可自動開啟的測(ce)試蓋

自動切(qie)換型準直器和濾光片

真空(kong)腔體

自動穩譜裝置

90mm×70mm的(de)液(ye)晶屏

先進的數字(zi)多道(dao)技(ji)術

多變量非線性回歸(gui)程序

相互獨立的基(ji)體效應校正模型

技(ji)術參數

型號：EDX3600K

X射(she)線源：50KV、1mA

樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：能量色散(san)X熒光分(fen)析方法

測量元素范(fan)圍：原子(zi)序數為9～92[氟(fu)（F）到鈾（U）]之間的(de)元素均可測量

檢測元(yuan)素(su)：同時分(fen)析元(yuan)素(su)達三十多種，可(ke)根據客戶需(xu)要增加(jia)元(yuan)素(su)

含量范圍：ppm～99.99%

檢測時間：10秒以上

檢測對象：標(biao)準(zhun)粉(fen)未壓片及可以放入標(biao)準(zhun)樣品杯(bei)的固體、液體及粉(fen)末

探(tan)測器(qi)及分辨率：超大超薄(bo)的(de)SDD探(tan)測(ce)器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV

激發(fa)源：銠靶(ba)或鎢靶(ba)光管根據(ju)客戶需(xu)求可供選擇

攝像頭：高清攝像頭

測井環境：超真空系(xi)統，10秒可(ke)抽(chou)到10Pa以(yi)(yi)下，大氣(qi)、氦(hai)氣(qi)均(jun)可以(yi)(yi)

準直器(qi)和濾(lv)光片(pian)：四(si)組準直器(qi)（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換

自旋裝置(zhi)：可調速(su)的自旋裝置(zhi)

檢出(chu)限：對(dui)樣品中的大(da)多數元素(su)來說，檢出(chu)限達5～500ppm

真空系統(tong)：超(chao)真空系統(tong)，10秒可到10Pa

數(shu)據(ju)傳輸：數(shu)字(zi)多(duo)道技術，快速分析，高計數(shu)率

測試臺：360°電動旋轉(zhuan)式

保護(hu)系統：樣(yang)品(pin)腔為(wei)電(dian)動控制，上蓋(gai)打開時測試已完成

樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動

數字多(duo)道技術：計數率>50kcps，有(you)效計數(shu)率高(gao)至500kcps

外(wai)形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

操作環境濕度：≤90%

操作環境(jing)溫度(du)：15℃～30℃

軟件(jian)優勢(shi)

采(cai)用(yong)公司新的(de)能譜EDXRF軟(ruan)件，先進的FP法和EC法等多種方(fang)法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時(shi)間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小(xiao)的特點。

具有(you)多種測試模(mo)式設置(zhi)和無限數(shu)目模(mo)式自由(you)添(tian)加，內置(zhi)強度校(xiao)正(zheng)(zheng)方(fang)法，可校(xiao)正(zheng)(zheng)幾何(he)狀態(tai)不(bu)同和結(jie)構(gou)密度不(bu)均勻的樣品造成的偏差。

全新的軟件(jian)界面(mian)和內(nei)核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛。

應(ying)用領域

金(jin)屬元素(su)分析檢測儀專為粉未(wei)冶(ye)煉行業研發(fa)的一款高端(duan)設備，主(zhu)要應用在水泥(ni)冶(ye)煉、鋼鐵冶(ye)煉、礦冶(ye)煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析(xi)、各種粉未冶金分析(xi)行業、石油(you)勘探(tan)錄井分析(xi)領域。

同時在地質、礦(kuang)(kuang)樣、冶金、稀土材料、環境(jing)監測、有色金屬、食品、農業(ye)等科(ke)研院所、大專院校和工礦(kuang)(kuang)企(qi)業(ye)中也得到廣泛應用。