x射(she)線熒光測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)是一款(kuan)通(tong)過(guo)X射(she)線照射(she)方式測(ce)試電鍍層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)(du)的儀(yi)(yi)器(qi)，針對鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀(yin)等(deng)鍍層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)(du)檢測(ce)，一次性多(duo)可以測(ce)5層(ceng)(ceng)(ceng)，是一種無損儀(yi)(yi)器(qi)，整個操作通(tong)過(guo)電腦全(quan)過(guo)程清晰可見，而(er)且操作非(fei)常簡單，人員簡單的培訓即可上崗操作，降低了企業在來(lai)料(liao)（不合格）和生產(chan)過(guo)程中因產(chan)品(pin)鍍厚(hou)或者鍍薄(bo)而(er)造成的不必要損失。

天瑞X射線熒光測厚儀性能(neng)優勢

新款Thick8000x射線熒光測厚儀秉(bing)承了上一代Thick800A的(de)(de)(de)優點，在此(ci)基礎(chu)上(shang)設(she)計(ji)了(le)三維(wei)移動平臺，先(xian)進的(de)(de)(de)樣品觀測(ce)系統(tong)和圖像識別功能(neng)，滿(man)足(zu)了(le)槽(cao)狀樣品的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)和不(bu)同規格樣品的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)，同時加(jia)上(shang)大面積的(de)(de)(de)高分辨率的(de)(de)(de)探測(ce)器，大大提高了(le)準確度，為客戶提供更的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)，從而(er)降低產(chan)品的(de)(de)(de)成本，提高產(chan)品的(de)(de)(de)競(jing)爭力(li)。

天瑞X射線熒光測厚儀技術參數

可(ke)以分析從(cong)硫(liu)到鈾(you)之間的(de)元素，同時可(ke)以測試24種元素之(zhi)多，含(han)量范圍一(yi)般從2個PPM到百(bai)分之(zhi)99.9；鍍(du)層厚度(du)一(yi)般在50μm以內，不同材質略(lve)有差異，先進的SDD探測器，高清(qing)的工業攝像頭，儀(yi)器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

部分產(chan)品

X熒(ying)光鍍層(ceng)測厚儀品牌(pai)，x-ray鍍層測厚(hou)儀，x熒光(guang)鍍層測厚儀(yi)價格，鍍銀層無損測厚儀(yi)，x熒光鍍(du)(du)層測厚儀，金屬鍍(du)(du)層測厚儀，X熒光電鍍(du)層測厚(hou)儀(yi)，鍍(du)層膜厚(hou)測試儀(yi)，銅上鍍(du)鎳金(jin)測厚(hou)儀(yi)，X熒光金屬膜(mo)厚(hou)測厚(hou)儀，x熒光金屬(shu)測厚儀，無損金屬(shu)鍍層測厚儀,鍍金膜厚儀(yi),PCB表面鍍層測厚(hou)儀,金屬鍍層(ceng)分(fen)析儀(yi)(yi)，鍍銀厚度測試(shi)儀(yi)(yi)，膜厚測試(shi)儀(yi)(yi)x-ray ，金屬鍍層膜厚儀(yi)，X射線熒光多鍍(du)層厚度測量儀，銅(tong)鍍(du)銀X射線無損測厚儀(yi)，鍍層分析儀(yi)

應用領域

x射線熒光測厚儀主要應該用(yong)在(zai)電(dian)子電(dian)器(qi)（線路板/PCB）、五金(jin)工(gong)具、電鍍加工(gong)、制(zhi)冷設備、半導體(ti)(ti)、五金(jin)配件、端子連接器、腔體(ti)(ti)等企業中。

 鍍層產品圖