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edx能譜光譜分析儀

簡要描述:

edx能譜(pu)光譜(pu)分(fen)(fen)析儀是一款X射線無損設備,主要應用(yong)于合金(jin)檢測、鍍層(ceng)分(fen)(fen)析、ROHS有害物質測試、礦石元素(su)分(fen)(fen)析、土壤(rang)分(fen)(fen)析等元素(su)含量分(fen)(fen)析,天瑞儀器是專業EDX能譜(pu)分(fen)(fen)析儀生產(chan)廠(chang)家,分(fen)(fen)析儀器上(shang)市公司。

能譜合金(jin)分析儀

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edx能(neng)譜(pu)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)儀是一(yi)款(kuan)X射線無損設備,主要應用于合金檢測、鍍層分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)、ROHS有害(hai)物質測試、礦石元素分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)、土壤分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)等元素含量分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi),天瑞儀器是專業EDX能(neng)譜(pu)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)儀生產(chan)廠家,分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)儀器上(shang)市(shi)公(gong)司。

EDX2000H能譜分(fen)(fen)析(xi)儀*于黃銅成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)以及(ji)其他金屬(shu)樣品的成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)

不添(tian)加(jia)任何硬件設(she)施既(ji)可升級分(fen)析功能,方便靈活的(de)隨(sui)未來發展的(de)分(fen)析需要增加(jia)分(fen)析元(yuan)素及合金種(zhong)類

采用多(duo)參(can)數(shu)的線性(xing)回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯(xian)的降低

檢(jian)測時間短(duan),可以大(da)大(da)提高工作效率(lv)

應用(yong)新一代(dai)的高壓電源和X光管,提供了產品(pin)的可靠性

利用新X光管提(ti)高儀(yi)器(qi)的測試效率,并優化產(chan)品性(xing)能和(he)提(ti)高安全防護等級

 

性能特點

 

下照(zhao)式:可滿足各種形狀樣(yang)品的測(ce)試需(xu)求

移(yi)動平臺:精細的手動移(yi)動平臺,方(fang)便定位(wei)測(ce)試點

高分(fen)辨率探測(ce)器:提高分(fen)析的(de)準確性

準(zhun)直器和濾(lv)光(guang)片:多種(zhong)準(zhun)直器和濾(lv)光(guang)片的電動(dong)切(qie)換(huan),滿足各種(zhong)測(ce)試方式的應(ying)用

新一代的(de)高壓(ya)電源和X光管:性能穩定可靠,實現更高的(de)測(ce)試效率

 

技術指標

 

多變量非線性回歸(gui)程序

分(fen)析含量一般為ppm到(dao)99.99%

任意多(duo)個可選擇的分析(xi)和識別模(mo)型

相互(hu)獨立的基體效應校正模型

溫度適應范圍為15℃至(zhi)30℃

分析檢出限可(ke)達(da)ppm

儀器(qi)重量:45kg

元(yuan)素分析范圍從硫(liu)(S)到鈾(U)

電(dian)源(yuan):交流(liu)(liu)220V±5V,建議(yi)配(pei)置交流(liu)(liu)凈化(hua)穩(wen)壓電(dian)源(yuan)

能量分辨率(lv):160±5eV

樣品腔尺寸:460×298×98mm

儀器尺(chi)寸:550mm×410mm×320mm

 

標準配置

 

移(yi)動樣品(pin)平臺

高(gao)低壓電源

新(xin)型X光管

計算機(ji)(ji)及噴墨(mo)打印(yin)機(ji)(ji)

電制冷Si-PIN探(tan)測器(qi)

信號檢測電(dian)子電(dian)路(lu)

 

應用(yong)領(ling)域

 

黃銅(tong)(tong)成分分析,以及銅(tong)(tong)合金(jin)(jin)、鋅合金(jin)(jin)、鈷合金(jin)(jin)、不(bu)銹鋼(gang)等(deng)金(jin)(jin)屬樣品的(de)成分分析

 

能譜礦石(shi)分析儀(yi)

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EDX3600K能(neng)譜分(fen)(fen)(fen)析(xi)儀(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)亮點在(zai)于它大鈹窗(chuang)超薄口(kou)的(de)(de)(de)(de)(de)高分(fen)(fen)(fen)辨SDD探測器(qi)(qi)和(he)自旋式(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)樣品腔,產(chan)品通過(guo)了江(jiang)蘇省計量科學(xue)研究(jiu)院的(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)測,并通過(guo)中國儀(yi)(yi)器(qi)(qi)儀(yi)(yi)表學(xue)會分(fen)(fen)(fen)析(xi)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)分(fen)(fen)(fen)會組(zu)織的(de)(de)(de)(de)(de)科技(ji)成(cheng)果(guo)鑒定(ding),技(ji)術(shu)(shu)(shu)達(da)到較高水平(ping)。X熒(ying)光(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)譜儀(yi)(yi)屬于先進的(de)(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)(fen)析(xi)檢(jian)測儀(yi)(yi)器(qi)(qi),隨著半導(dao)體(ti)微(wei)電子技(ji)術(shu)(shu)(shu)和(he)計算機(ji)技(ji)術(shu)(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)飛速發(fa)(fa)展(zhan),傳統的(de)(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)學(xue)、熱學(xue)、電化(hua)學(xue)、色譜、波譜類分(fen)(fen)(fen)析(xi)技(ji)術(shu)(shu)(shu)都已從經典的(de)(de)(de)(de)(de)化(hua)學(xue)精(jing)密機(ji)械電子學(xue)結(jie)構、實驗室內(nei)人(ren)工操(cao)作(zuo)應用(yong)模式(shi),轉(zhuan)化(hua)成(cheng)光(guang)(guang)(guang)、機(ji)、電、算(計算機(ji))一體(ti)化(hua)、自動化(hua)的(de)(de)(de)(de)(de)結(jie)構,并向智(zhi)能(neng)化(hua)、小(xiao)型化(hua)、在(zai)線式(shi)及儀(yi)(yi)器(qi)(qi)聯(lian)用(yong)方向發(fa)(fa)展(zhan)。天瑞公司在(zai)以已掌握(wo)的(de)(de)(de)(de)(de)成(cheng)熟(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)臺式(shi)X熒(ying)光(guang)(guang)(guang)光(guang)(guang)(guang)譜儀(yi)(yi)技(ji)術(shu)(shu)(shu)為基礎,結(jie)合國外相關新的(de)(de)(de)(de)(de)技(ji)術(shu)(shu)(shu)發(fa)(fa)展(zhan)成(cheng)果(guo),研制出具有自主知(zhi)識產(chan)權的(de)(de)(de)(de)(de)EDX 3600K型能(neng)譜分(fen)(fen)(fen)析(xi)儀(yi)(yi)

 

edx能譜光譜分析儀器配置

 

鈹窗電(dian)制冷SDD探測器

自旋式樣(yang)品腔

高效超薄窗X光管

信噪(zao)比增強器SNE

超(chao)近(jin)光路增強系統(tong)

可(ke)自動開啟的測(ce)試蓋

自(zi)動(dong)切換型準直器和濾光片

真(zhen)空腔體

自動(dong)穩譜裝置

90mm×70mm的(de)液晶屏

先進(jin)的(de)數字多道技術

多變量非線性(xing)回(hui)歸程序

相互獨立(li)的基(ji)體(ti)效應校正模型

 

edx能譜光譜分析儀技(ji)術參數

 

型號:EDX3600K

X射線源:50KV、1mA

樣品腔(qiang)體積:Φ40.5mm×39.5mm

分(fen)析方法:能量色(se)散X熒光分(fen)析方法

測(ce)量元素(su)范圍:原子序數為(wei)9~92[氟(F)到(dao)鈾(U)]之間的元素(su)均可測(ce)量

檢測元(yuan)素(su)(su):同時分析(xi)元(yuan)素(su)(su)達三十多種,可根據客(ke)戶需要(yao)增(zeng)加元(yuan)素(su)(su)

含量(liang)范圍:ppm~99.99%

檢測(ce)時間:10秒以上(shang)

檢測對象:標(biao)(biao)準粉(fen)未壓(ya)片(pian)及(ji)可以放(fang)入標(biao)(biao)準樣品杯的固(gu)體(ti)、液體(ti)及(ji)粉(fen)末

探測(ce)器(qi)及分辨率(lv)(lv):超大超薄的SDD探測(ce)器(qi),分辨率(lv)(lv) 為144±5eV,可選配(pei)極速(su)探測(ce)器(qi)至125eV

激發源(yuan):銠靶(ba)或鎢靶(ba)光管根據客戶需求可供選擇

攝(she)像頭:高清(qing)攝(she)像頭

測井環境(jing):超(chao)真空系統,10秒可(ke)(ke)抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可(ke)(ke)以

準直器和濾(lv)光(guang)片(pian):四組(zu)準直器(7、5、3、1mm),6種濾(lv)光(guang)片(pian)組(zu)合自動切換

自旋(xuan)(xuan)裝置(zhi):可調(diao)速(su)的(de)自旋(xuan)(xuan)裝置(zhi)

檢(jian)出限:對樣品中(zhong)的(de)大多數元素來說(shuo),檢(jian)出限達5~500ppm

真(zhen)(zhen)空系統:超真(zhen)(zhen)空系統,10秒可到10Pa

數(shu)據(ju)傳輸:數(shu)字多道技(ji)術,快速(su)分析,高計數(shu)率

測試臺:360°電動旋(xuan)轉式(shi)

保護系(xi)統:樣品腔為電動(dong)控(kong)制(zhi),上蓋(gai)打開時測試已完(wan)成

樣(yang)品(pin)(pin)放(fang)置:*的樣(yang)品(pin)(pin)杯設計(ji),自帶壓環,可防(fang)止樣(yang)品(pin)(pin)晃動

數(shu)字多道技術:計(ji)數(shu)率(lv)>50kcps,有效計(ji)數(shu)率(lv)高至500kcps

外形尺寸(cun)及重量(liang):669mm×540mm×874mm,90KG

操作環(huan)境濕度:≤90%

操作環境溫(wen)度:15℃~30℃

 

應用領(ling)域

 

專為粉未冶(ye)煉(lian)(lian)行業研發的一款設(she)備,主要應用在水泥冶(ye)煉(lian)(lian)、鋼鐵冶(ye)煉(lian)(lian)、礦(kuang)冶(ye)煉(lian)(lian)(銅礦(kuang)、鉛礦(kuang)等(deng))、鋁冶(ye)煉(lian)(lian)、玻璃制造、耐(nai)火材(cai)料分析、各種粉未冶(ye)金分析行業、石油勘探錄井分析領域(yu)。

同時在地質、礦樣、冶金、稀(xi)土(tu)材料、環境監測、有色金屬、食品(pin)、農業等科(ke)研院所(suo)、大專院校(xiao)和(he)工礦企(qi)業中也得(de)到廣泛應用。

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