磁(ci)性材料(liao)鍍層(ceng)測(ce)厚儀(yi)(yi)是(shi)國(guo)內的(de)分(fen)(fen)析(xi)(xi)儀(yi)(yi)器廠家,公司主營產品(pin)(pin)X熒光檢(jian)(jian)(jian)測(ce)儀(yi)(yi)具有快速、精確(que)、無損的(de)特點。X熒光分(fen)(fen)析(xi)(xi)儀(yi)(yi)可以(yi)應用于(yu)任何需要分(fen)(fen)析(xi)(xi)Na以(yi)上(shang)到U的(de)元素或化(hua)合物成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi)的(de)領(ling)域,如:電(dian)子電(dian)器(RoHS檢(jian)(jian)(jian)測(ce))、珠寶(bao)首飾(貴金(jin)屬(shu)(shu)及鍍層(ceng)檢(jian)(jian)(jian)測(ce))、玩具安全(quan)(EN71-3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶(ye)金(jin)(鋼(gang)鐵、有色金(jin)屬(shu)(shu))、石油(微量元素S、Pb等)、化(hua)工、地(di)質(zhi)采(cai)礦、商品(pin)(pin)檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)(yan)、質(zhi)量檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)(yan)甚(shen)至人體(ti)微量元素的(de)檢(jian)(jian)(jian)驗(yan)(yan)(yan)等等。
查看詳細介紹金屬鍍(du)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)器(qi)為什么選擇(ze)天瑞thick800a 快速:1分(fen)鐘就可以測(ce)定樣品鍍(du)層(ceng)(ceng)的厚(hou)度,并達到(dao)測(ce)量(liang)精度要求。 方便:X熒光光譜儀(yi)部分(fen)機(ji)型采用(yong)進(jin)口上的電制冷(leng)半導體探測(ce)器(qi),能量(liang)分(fen)辨率更(geng)優于135eV,測(ce)試(shi)精度更(geng)高。并且不用(yong)液氮(dan)制冷(leng),不用(yong)定期補充液氮(dan),操作使用(yong)更(geng)加方便,并且運(yun)行成本比同類的其(qi)他產品更(geng)低。
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