EDX600X光膜厚(hou)儀(yi)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)優惠是集天(tian)瑞儀(yi)器多(duo)年貴(gui)金屬檢測(ce)(ce)(ce)技術(shu)和(he)經驗(yan)，以*的(de)產品(pin)配(pei)置(zhi)、功能齊全(quan)的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)軟件(jian)、友好的(de)操(cao)作(zuo)界面來滿(man)足貴(gui)金屬成分檢測(ce)(ce)(ce)的(de)需要，人(ren)性化的(de)設計，使(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)工作(zuo)更(geng)加(jia)輕松(song)完成。
EDX600X光膜厚儀測厚儀優惠——X熒光光譜儀
EDX600是集天瑞儀器多年貴金屬檢測技術和經驗，以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。
EDX600貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。
性能特點
專(zhuan)業貴金屬檢測(ce)、鍍層厚度檢測(ce)。
智能貴(gui)金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可(ke)選擇的分析(xi)和識別模(mo)型。
相互獨立(li)的基體效應(ying)校(xiao)正模型(xing)。
多變量非(fei)線性回收程序。
技術指標
元素分析(xi)范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測(ce)量對(dui)象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達：ppm。
分析含量一(yi)般為：ppm到99.9％。
多次測量重復性(xing)可達(da)：0.1％。
長期工作穩(wen)定性為：0.1％。
標準配置
單樣品(pin)腔。
正(zheng)比計數(shu)盒探測器(qi)。
信號檢測電子(zi)電路。
高(gao)低壓電源。
X光管。
外觀(guan)尺寸(cun)： 430×380×355mm
樣品腔(qiang)尺(chi)寸：306×260×78mm
重(zhong)量：30kg
應用領域
黃金(jin)(jin)、鉑、銀(yin)等貴金(jin)(jin)屬和各種首飾的含量檢測。
X光膜厚儀測厚儀金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用(yong)于貴金屬加(jia)工(gong)和首飾加(jia)工(gong)行業；銀行，首飾銷售和檢(jian)測機構；電鍍行業。
在線客服