產品介紹

X射線膜厚檢測儀性能是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子，俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值，電腦操作，非常簡單，江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業X射線膜厚檢測儀性能生產廠家，thick8000是公司款的，采用上照方式，移動測試平臺，使整個自動化程度大幅度提高，滿足快速精確的要求。

性能優(you)勢

1.精密的三維移動平臺(tai) 

2.的樣品觀測系(xi)統 

3.先(xian)進(jin)的(de)圖像識別 

4.輕(qing)松實現深槽(cao)樣品的檢(jian)測 

5.四種(zhong)微(wei)孔(kong)聚焦(jiao)準直器，自動(dong)切換(huan) 

6.雙(shuang)重保護措施，實(shi)現無縫(feng)防撞 

7.采用大面(mian)積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提(ti)高測試精度

全自動智能控(kong)制方式，一鍵(jian)式操作!

開機(ji)自(zi)動(dong)自(zi)檢、復位； 

開(kai)蓋自動退出樣品臺，升(sheng)起(qi)Z軸測(ce)試平臺，方便放樣； 

關蓋推進樣品臺，下降(jiang)Z軸測(ce)試平臺并自(zi)動完成對焦； 

直接點(dian)擊全(quan)景或局部景圖像(xiang)選取測試點(dian)； 

點擊(ji)軟(ruan)件界(jie)面測試(shi)按鈕(niu)，自動完成測試(shi)并顯示結果。

技術指標(biao)

分(fen)析元素(su)范圍：硫（S）～鈾（U） 

同時檢(jian)測元(yuan)素：zui多(duo)24個元(yuan)素，多(duo)達5層鍍層

分析含量：一般為2ppm到99.9% 

鍍(du)層厚(hou)度(du)：一般在50μm以內(nei)（每(mei)種材料有所不同）

SDD探測器：分辨率低(di)至(zhi)135eV

先進的微孔(kong)準直技術：zui小(xiao)孔(kong)徑(jing)達0.1mm,zui小(xiao)光斑達0.1mm

樣品觀察(cha)：配備全景和(he)局部兩個工業高清攝像頭 

準(zhun)直器(qi)：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與(yu)Ф0.3mm四(si)種準(zhun)直器(qi)組合(he) 

儀器(qi)尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品(pin)臺尺(chi)寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平臺移動速(su)(su)度(du)：額定速(su)(su)度(du)200mm/s zui高速(su)(su)度(du)333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位(wei)精度(du)：小于0.1um

操作環境濕度(du)：≤90%

操(cao)作環(huan)境(jing)溫度：15℃～30℃

部分產品(pin)

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應用領(ling)域

X射線膜厚檢測儀廣泛應用于小螺絲、螺帽、螺栓、電子連接器、汽車配件、端子、PCB線路板、電子元器件等產品的金屬鍍層快速測量。