儀器介紹(shao)

X-Ray電鍍膜厚測(ce)(ce)試(shi)儀（thick680）是(shi)天瑞(rui)根據多年(nian)的(de)(de)貴(gui)金(jin)屬檢(jian)測(ce)(ce)技術和經驗，以*的(de)(de)產(chan)品配置(zhi)、功能齊全的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)軟件、友好的(de)(de)操(cao)作界面(mian)來滿足(zu)貴(gui)金(jin)屬的(de)(de)成(cheng)分檢(jian)測(ce)(ce)的(de)(de)需要，人(ren)性化的(de)(de)設計，使測(ce)(ce)試(shi)工(gong)作更加輕松完成(cheng)，測(ce)(ce)試(shi)簡(jian)單，方便，易于人(ren)員快速掌(zhang)握.

性能特(te)點

專業(ye)貴金屬檢測、鍍層測厚儀

內置信(xin)噪(zao)比(bi)增強器(qi)，可有效提高(gao)儀器(qi)信(xin)號(hao)處理能力25倍以(yi)上

智能貴金屬軟件，與儀器(qi)相得益彰(zhang)

任(ren)意多個可選擇(ze)的分析和(he)識別模(mo)型

多變量非線性回收程(cheng)序

技術指標

X射線(xian)激發系(xi)統(tong) 垂直(zhi)上照式X射線(xian)光學系(xi)統(tong)

空(kong)冷式微聚焦型(xing)X射(she)線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選(xuan)靶材：W、Mo、Ag等(deng)

X射線管(guan)：管(guan)電壓50KV，管(guan)電流1mA

可測(ce)元素(su)：Ti～U

檢測器(qi)：正(zheng)比計數管

樣品(pin)觀察：CCD攝(she)像頭

測定(ding)軟件：薄膜FP法、檢量線法

Z軸(zhou)程控移動高(gao)度 20mm

標準配置

X射線管，正比(bi)記數盒，高(gao)清攝像頭，高(gao)度激光(guang)，信號(hao)檢測(ce)電(dian)子電(dian)路。

應(ying)用領域

X-Ray電鍍膜厚測(ce)試儀(yi)主要用(yong)于(yu)金(jin)屬鍍層(ceng)的(de)厚度測(ce)量(liang)(liang), 電鍍液和鍍層(ceng)含(han)量(liang)(liang)的(de)測(ce)定(ding)。廣泛(fan)應用(yong)于(yu)電子電器、五(wu)金(jin)工具、精密(mi)汽車配件(jian)、表面處理(li)、PCB線(xian)路板等企(qi)業(ye)。