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電鍍Thick680膜厚檢測儀

簡要描述:

電鍍(du)(du)Thick680膜(mo)(mo)厚(hou)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)儀(yi),隨(sui)著市場競(jing)爭日益激(ji)烈(lie),企業(ye)成本(ben)的(de)(de)不斷提高,客(ke)戶對電鍍(du)(du)膜(mo)(mo)厚(hou)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)儀(yi)(THICK680)的(de)(de)要(yao)求越來(lai)越高,普(pu)通的(de)(de)電鍍(du)(du)膜(mo)(mo)厚(hou)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)儀(yi)無法滿足客(ke)戶的(de)(de)要(yao)求,電鍍(du)(du)膜(mo)(mo)厚(hou)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)儀(yi)通過X射(she)(she)線照射(she)(she),不同元素的(de)(de)發射(she)(she)出不同能(neng)量(liang)及強度的(de)(de)X光(guang),通過接收(shou)器(qi)及軟(ruan)件分(fen)析(xi)來(lai)分(fen)析(xi)金(jin)(jin)屬(shu)(鋁合金(jin)(jin)、銅合金(jin)(jin))電鍍(du)(du)層(鍍(du)(du)鋅、鍍(du)(du)鎳、鍍(du)(du)金(jin)(jin)、鍍(du)(du)銀、鍍(du)(du)錫等(deng))的(de)(de)厚(hou)度

電鍍Thick680膜厚檢測儀產品介紹

 

隨著市場競爭日益激烈,企業成(cheng)本的(de)(de)不斷提高,客戶對(dui)電鍍(du)(du)(du)(du)膜厚(hou)檢(jian)測(ce)(ce)儀(THICK680)的(de)(de)要求(qiu)(qiu)越(yue)來越(yue)高,普通的(de)(de)電鍍(du)(du)(du)(du)膜厚(hou)檢(jian)測(ce)(ce)儀無(wu)法(fa)滿(man)足(zu)客戶的(de)(de)要求(qiu)(qiu),電鍍(du)(du)(du)(du)膜厚(hou)檢(jian)測(ce)(ce)儀通過(guo)X射線(xian)照(zhao)射,不同(tong)(tong)元(yuan)素的(de)(de)發射出不同(tong)(tong)能量(liang)及強(qiang)度的(de)(de)X光(guang),通過(guo)接收器(qi)(qi)及軟(ruan)件(jian)分(fen)(fen)析來分(fen)(fen)析金(jin)屬(鋁合(he)(he)金(jin)、銅合(he)(he)金(jin))電鍍(du)(du)(du)(du)層(鍍(du)(du)(du)(du)鋅(xin)、鍍(du)(du)(du)(du)鎳、鍍(du)(du)(du)(du)金(jin)、鍍(du)(du)(du)(du)銀、鍍(du)(du)(du)(du)錫等)的(de)(de)厚(hou)度,天瑞儀器(qi)(qi)是電鍍(du)(du)(du)(du)膜厚(hou)檢(jian)測(ce)(ce)儀(國產)廠家(jia),*無(wu)損分(fen)(fen)析,多一次分(fen)(fen)析五層,薄可分(fen)(fen)析0.005μm,采用(yong)上照(zhao)式照(zhao)射,移動(dong)探測(ce)(ce)器(qi)(qi)和X光(guang)管上下可動(dong),可以(yi)對(dui)凹(ao)面和凸面達到更好的(de)(de)測(ce)(ce)試效果,完成(cheng)下照(zhao)式對(dui)某些特殊樣品無(wu)法(fa)測(ce)(ce)試的(de)(de)效果。

 

電鍍Thick680膜厚檢測儀應用領域

 

電(dian)(dian)鍍(du)膜厚(hou)檢測儀廣泛應(ying)用于電(dian)(dian)子(zi)連接器企業(ye)、鋁合金(jin)鍍(du)鋅(xin)、鍍(du)鎳(nie)、鍍(du)錫等企業(ye)、電(dian)(dian)鍍(du)及(ji)電(dian)(dian)鍍(du)加工(gong)企業(ye)、五金(jin)工(gong)具企業(ye)、印刷線路板企業(ye)、電(dian)(dian)子(zi)和半導體企業(ye),完善的質(zhi)量體系和售后服務團(tuan)隊,保證(zheng)了用戶的使用和后期維(wei)護。

 

技術指標(biao)

 

X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
X射線管:管電壓50KV,管電流1mA
可測元素:Ti~U
檢測器:正比計數管
樣品觀察:CCD攝像頭
測定軟件:薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm

 

軟硬件配(pei)置

 

硬件:主機壹臺,含下列主要部件: 
(1)   X光管                  (2) si-pin探測器
(3) 信號檢測電子電路        (4) 高精度二維移動平臺
(5) 高清晰攝像頭            (6)高低壓電源
(7)  開放式樣品腔            (8) 雙激光定位裝置
(9)  鉛玻璃屏蔽罩
軟件及其他:電鍍膜厚檢測儀分析軟件

 

Thick680.jpg

 

 ;          電鍍(du)膜厚檢(jian)測儀圖片

 

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