1、天瑞XRF膜厚儀儀器概述

XRF膜厚(hou)儀(yi)(yi)(yi)由(you)江(jiang)蘇天瑞儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)股份有(you)限(xian)公司生(sheng)(sheng)產銷(xiao)售的一(yi)(yi)款分析儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)，江(jiang)蘇天瑞儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)股份有(you)限(xian)公司為一(yi)(yi)家專業(ye)研發生(sheng)(sheng)產儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)的上市企業(ye)，也是國(guo)內(nei)的實驗室儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)生(sheng)(sheng)產商(shang)，公司總部位于美麗的昆山市中(zhong)華園西路1888號，歡(huan)迎客戶前來參觀(guan)。

鍍層膜厚是電鍍產品的重要技術指標，關系到產品的質量以及生產成本。 Thick800A-XRF膜厚儀是天瑞集多(duo)年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一(yi)款膜厚測(ce)試(shi)儀器，配備(bei)移動(dong)平臺，可全自(zi)動(dong)軟件操作，并進行多(duo)點測(ce)試(shi)，檢測(ce)結果更加精準。

2、天瑞XRF膜厚儀性能優勢

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏(min)感(gan)性傳感(gan)器保(bao)護(hu)

3、技術指標

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg