Thick8000型(xing)X射(she)線膜(mo)厚(hou)測試(shi)儀

產(chan)品介紹(shao)

x射線膜(mo)厚測(ce)試儀是一款快(kuai)速、無損、的電(dian)鍍城厚度(du)測(ce)試儀器，主要用在鍍鋅（Zn）、鍍鎳(Ni)、鍍(du)錫(Sn)、鍍金(Au)、鍍銀(yin)(Ag)等金屬鍍層厚(hou)度(du)測測試，薄(bo)可(ke)測試0.005μm，為(wei)企業嚴格控制產(chan)品(pin)(pin)質量，防止鍍的過厚（增加產(chan)品(pin)(pin)成本）或者過薄（產(chan)品(pin)(pin)不合格）帶來的損失，天瑞儀器Thick8000x射(she)線膜厚測試儀是新(xin)研發生產的(de)一款x射線膜厚測試儀器，精密(mi)的(de)(de)三維移(yi)動平臺和(he)高(gao)清(qing)攝像(xiang)頭滿足(zu)了微小產品的(de)(de)測試，產品在行業內得到了廣泛(fan)的(de)(de)應用和(he)認可，打(da)破了國(guo)外壟(long)斷的(de)(de)局面。

天瑞x射線膜厚測試儀技術指標

X射線激發源：5OKV/1000μA-鎢(wu)靶X光管及高壓電源(yuan)
探測器(qi)及分辨率：SDD探測器，分辨(bian)率140±5eV
定位精度(du)：0.001mm
測(ce)量(liang)時間：10s及以上
樣品(pin)平臺(tai)移動范圍：120mm×120mm
樣品(pin)腔升降平臺(tai)移動高度：0～150mm

天瑞x射線膜厚測試儀硬(ying)件

主機壹臺，含下列主要部件： 
(1)微(wei)焦斑X光管(guan)                 
(2)大面積SDD電制冷半導體探測器
(3)數字(zi)多道(dao)分析器
(4)超高精度(du)三維移動平臺
(5)全景(jing)和局部兩個工業高清攝像(xiang)頭
(6)高低壓電源
(7)激(ji)光定位裝(zhuang)置及圖像自動對焦技術(shu)
(8)開(kai)放式樣品(pin)腔及鉛玻璃屏(ping)蔽罩
(9)電動調節準(zhun)直器
(10)防撞激光保護器

資(zi)(zi)料(liao)：儀(yi)器使用(yong)說(shuo)明書（包括軟件操作(zuo)說(shuo)明書和硬(ying)件使用(yong)說(shuo)明書）、出廠(chang)檢驗合格(ge)證明、裝箱(xiang)單、保修(xiu)單及其它應提供(gong)資(zi)(zi)料(liao)各一份。

標準附件
準直孔(kong)：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與(yu)Ф0.3mm四種(zhong)（已內置于儀器中）