性能特點

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
測試口高度敏感性傳感器保護

技(ji)術指標

型號：Thick 800A
分析檢出(chu)限可達(da)2ppm，薄可測試(shi)0.005μm。
分析含量(liang)一般為2ppm到99.9%
X熒光(guang)測(ce)厚儀元素分析范圍從硫(S)到鈾(you)（U）。
一次可同時分(fen)析(xi)多(duo)24個元素，五層鍍層。
鍍層厚(hou)度一般在50μm以內（每種材(cai)料有所不同）
任意(yi)多個可(ke)選擇(ze)的分析和(he)識別模型。
相互獨立的基體(ti)效應校(xiao)正模型。
多變量非線性回收(shou)程序(xu)
多次測量重復性可達0.1%
長期工(gong)作穩定性(xing)可達0.1%
度適應范圍(wei)為15℃至30℃。
電源(yuan): 交流220V±5V, 建議配置交(jiao)流(liu)凈化穩(wen)壓電源。
外觀尺(chi)寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室(shi)尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標準配置(zhi)

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應用(yong)領(ling)域

可以測試黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
X熒光測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍企業、半導體企業、五金工具企業、電子電器企業。